倫敦帝國理工學(xué)院(Imperial College London)的研究人員發(fā)現(xiàn)，一次嚴(yán)重的頭部損傷就可能在幾十年后導(dǎo)致大腦損傷，即使從表面看患者在短期內(nèi)已完全康復(fù)。

他們的研究利用一種新的正電子發(fā)射斷層成像(PET)技術(shù)，考察21名男性和女性的生物化學(xué)特征，他們都曾在18至35年前因意外或受到攻擊而遭受過一次創(chuàng)傷性腦損傷(TBI)。研究人員把他們與一個由11人組成的對照組進(jìn)行比較，對照組在人口統(tǒng)計學(xué)和教育程度上與他們相匹配，但這11人無此類受傷史。

研究結(jié)果發(fā)表在《科學(xué)轉(zhuǎn)化醫(yī)學(xué)》(Science Translational Medicine)雜志上。結(jié)果顯示，與對照組或普通人群相比，創(chuàng)傷性腦損傷患者大腦中有害tau蛋白處于高水平的可能性高得多。科學(xué)家越來越認(rèn)為，tau蛋白堆積是神經(jīng)退行性病變的一個關(guān)鍵特征，而神經(jīng)退行性病變很可能會導(dǎo)致阿爾茨海默癥或其他形式的癡呆癥。年齡在29歲至72歲之間的創(chuàng)傷性腦損傷患者組在記憶力和認(rèn)知測試方面的表現(xiàn)也遜于對照組。